TEMトモグラフィーを用いたナノワイヤーの特性評価

ノースウェスタン大学の研究者らは、ハミングバード製のトモグラフィー・ホルダーを使用し、金触媒を用いたナノワイヤーの特性評価と、Siナノワイヤー上の金（Au）の空間分布マップを作成しました。Siナノワイヤー・デバイスに付着したAuナノ粒子は、ナノワイヤーの局所的な表面プラズモン励起によって、光電流を著しく増 大させました。このような材料におけるナノスケールの構造特性を完全に理解するためには、サブナノメートルの解像度を持つ3次元的な視点が必要です。

参考文献：J. Wu, S. Padalkar, S. Xie, E.R. Hemesath, J. Cheng, G. Liu, A. Yan, J.G. Connell, E. Nakazawa, X. Zhang, L.J. Lauhon, V.P. Dravid. “Electron Tomography of Au-Catalyzed Semiconductor Nanowires,” Journal of Physical Chemistry C 117:2 (2013) pp.1059-1063.

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